You are here

NI Autóipari Fórum 2017 - Agenda

 

 

NI Autóipari Fórum 2017

 

Intelligens járművek: az önvezető autók tesztelési és validációs stratégiái újraértelmezve.

 

 

2017. április 11.

9:00- 16:00 

 Rendezvény mentése a naptárba

 

Aquaworld Resort Budapest Hotel

1044 Budapest, Íves út 16.

 Helyszín

Agenda (PDF)

8:30 – 9:00

Regisztráció

9:00 – 9:30

Forradalmian új technológiák az autóiparban és korszerű tesztrendszerek a minőség szolgálatában
Péter Attila, National Instruments

9:30 – 10:30

Vezetéstámogató rendszerek (ADAS) és tesztmegoldások
(Angol nyelvű előadás)

Douglas Farrell, National Instruments; Matthias Vogel, Konrad Technologies

10:30 – 11:00 Kávészünet
11:00 – 11:30

Hálózaton és egymással kommunikáló járművek (V2X): rádiófrekvenciás tesztrendszerek és HIL szimuláció
(Angol nyelvű előadás)

Axel Meinen, S.E.A. Datentechnik GmbH

11:30 – 12:15

Infokommunikációs rendszerek tesztelése NFC-től GNSS-ig és azon túl
Litkei Márton, National Instruments; Jónás Márk, ANV s.r.o.

12:15 – 13:00

Új platform alapú megoldás jelútváltás/terhelés/jelkondícionálás megvalósításához HIL szimulátorokhoz: NI SLSC
(Angol nyelvű előadás)

Jörgen Etter, National Instruments; Torben Postel, SET GmbH

13:00 – 14:00 Ebédszünet
14:00 – 14:20

eCall és autóipari kommunikációs modulok tesztelése validációtól a sorozatgyártásig
Süveg Mátyás, NOFFZ Technologies

14:20 – 14:40

Autóipari teljesítményelektronikai termék gyártás közbeni funkcionális tesztelése NI PXI platformon
Lipták András, Cobra Control Kft.

14:40 – 15:00

Validációs teszt rendszer műszerfalak párhuzamos tesztelésére
Balogh László, ProDSP Technologies Kft.

15:00 – 15:30

Megoldások nagy mennyiségű adatok hatékony elemzéséhez: NI DIAdem
Sárosi Tamás, National Instruments

 

 

A program változtatásának jogát fenntartjuk.

További információ:

Forradalmian új technológiák az autóiparban és korszerű tesztrendszerek a minőség szolgálatában
Péter Attila, National Instruments


The technology used in cars is accelerating faster than ever before. This has made it hard for the testing methods of the past to keep pace with the technology of future vehicles. In this session we’ll learn how using an open, platform based approach can future proof your test systems and increase your test coverage.

 

Vezetéstámogató rendszerek (ADAS) és tesztmegoldások
(Angol nyelvű előadás)

Doug Farrell, National Instruments; Matthias Vogel, Konrad Technologies Eastern Europe


On their own, testing requirements for camera and radar technology are rapidly changing as they become more and more safety critical. And as these systems become increasingly hybridized the testing requirements quickly grow. A test system built on a scalable and flexible architecture is the only way to make sure you can adapt as quickly as ADAS and autonomous vehicle systems are.

 

Hálózaton és egymással kommunikáló járművek (V2X): rádiófrekvenciás tesztrendszerek és HIL szimuláció
(Angol nyelvű előadás)

Axel Meinen, S.E.A. Datentechnik GmbH


As autonomous vehicles move closer from a concept to reality, the evolution of V2X technology that enables autonomous vehicles proceeds at a faster rate with a greater need for verifiable test and validation methodologies. SEA’s V2X test solutions built on NI the platform, for signalling test with error injection capability can augment typical standardized test routines and practices adding HIL scenario based testing for the next generation V2X test requirements. This session will introduce V2X test methodologies and options to consider from the NI alliance partner SEA Datentechnik GmbH. In this 30-min presentation, we will introduce the NI’s powerful and complete platform designed to provide increased flexibility so that you can quickly design, validate and test you V2X (Vehicle to Everything) modules of today and tomorrow.

 

Infokommunikációs rendszerek tesztelése NFS-től GNSS-ig és azon túl
Litkei Márton, National Instruments; Jónás Márk, ANV s.r.o.


According to one research, electronic systems contribute more than 90% of innovations and new features in the automotive industry, and the cost of electronics and software content in autos now represents as much as 35% of the total cost (compared to less than 20% a decade ago). As the line between autos and consumer electronics gets blur, infotainment systems with a wide range of I/Os, including audio, video, RF and wireless standards, and in-vehicle communications, become a critical part of automotive testing.

In this 45-min presentation, we will introduce the NI’s powerful and complete testing platform designed to provide automated measurements and increased flexibility to help you get your infotainment systems to market quickly while ensuring the highest quality for your customers. Whether it’s analyzing picture quality of rear-view cameras or satellite TV, testing satellite radio audio quality and functionality, performing extensive RF cellular characterization tests, or connecting to common in-vehicle networks, NI hardware and software products help you simplify development, increase code reuse and productivity, and dramatically reduce time to market.

 

Új platform alapú megoldás jelútváltás/terhelés/jelkondícionálás megvalósításához HIL szimulátorokhoz: NI SLSC
(Angol nyelvű előadás)

Jörgen Etter, National Instruments; Torben Postel, SET GmbH


For years test engineers have taken advantage of the lower price, outsourced risk, and easy upgradability of COTS (commercial off the shelf) components for their data acquisition. Until now however, there have been no good solutions for the other half of testing solutions – the switches, loads, and signal conditioning. SLSC is the first open architecture designed to deliver all of these same benefits, while still supporting integration of custom circuitry and load plates by being fully open. Learn how SLSC is helping companies focus on their domain expertise, building and testing next generation vehicles, rather than on building and maintaining data acquisition systems.

SET: The standardized & platform based HIL design with National Instruments products is the key for an optimal HIL system. Now, the new NI SLSC platform (Switch Load Signal Conditioning) closes the gap between the device under test and the standardized NI PXI platform. We will explain the platform in details as well as its use cases, especially in combination with NI VeriStand for ADAS Sensor Fusion & HIL.

 

eCall és autóipari kommunikációs modulok tesztelése validációtól a sorozatgyártásig
Süveg Mátyás, NOFFZ Technologies


Az autóipar szigorú előírásai miatt az eCall termékeknek a következő teszt fázisokon kell keresztül menniük a validációs és a gyártási folyamat során. Először a kész termék egy ún. paraméter teszterbe kerül, ahol az összes funkcióját teszteljük. A következő egy monitorozó állomás, ahol huzamosabb ideig szélsőséges terhelésnek tesszük ki a terméket, ezután közvetlenül újra lefuttatjuk a paraméter teszteren, és előtte-utána elemzést végzünk. Végül pedig a gyártósori ellenőrzésen is átesik a termék, ahol a paraméter teszter optimalizált változata fut.

 

Autóipari teljesítményelektronikai termék gyártás közbeni funkcionális tesztelése NI PXI platformon
Lipták András, Cobra Control Kft.


A Cobra Control Kft által kifejlesztett mérőállomás egyszerűsített funkcionális tesztet végez elektromos üzemre is képes autókba készülő vezérlőelektronikán. A tesztberendezés a termék végleges lezárása előtti ellenőrzést végzi, így lehetővé teszi az esetlegesen felmerülő hibák gyártási folyamaton belüli javítását. A National Instruments PXI platformon megvalósított tesztberendezés felhasználói szoftvere LabWindows/CVI szoftverfejlesztői környezetben készült. A berendezés CAN buszon kommunikál a termékkel és különféle, részben nagyáramú és nagyfeszültségű elektromos méréseket végez.

 

Validációs teszt rendszer műszerfalak párhuzamos tesztelésére
Balogh László, ProDSP Technologies Kft.


Az előadás egy olyan automatizált teszt tornyot mutat be, amellyel különböző autógyártók műszerfalainak tesztelését lehet elvégezni. A fejlesztést a ProDSP Technologies Kft. és a Robert Bosch Kft. közösen végezte el. Egy toronyban egyszerre hat eszköz tesztelhető párhuzamosan. Az eszközök CAN és LIN portokon kommunikálnak, amelyekhez NI-XNET segítségével férünk hozzá. Megvalósítottuk továbbá az autóiparban használatos LVDS interfészek tesztelését is. Az akár több ezer órás fárasztásos tesztek során is folyamatosan megfigyeljük az eszközöket. Az eszközök temperálását, különböző, előírt profiloknak megfelelően klímakamrákkal végezzük. A magas minőségi követelmények és a szoros határidők miatt a National Instruments termékei kerültek felhasználásra mind a hardver, mind a szoftver kapcsán. A készülék fő komponense egy PXI alapú rendszer, amelyhez a szoftver komponenseket Labview és TestStand felhasználásával valósítottuk meg. A National Instruments termékeivel nem csak a készülék fejlesztési idejét, hanem a különböző tesztek implementációs idejét és ezzel párhuzamosan költségét is lecsökkentettük.

 

Megoldások nagy mennyiségű adatok hatékony elemzéséhez: NI DIAdem
Sárosi Tamás, National Instruments


No matter the size of your application, on average only 5 percent of data being collected is analyzed. Deriving knowledge from acquired data is key to gaining a competitive edge. Learn how you can increase your efficiency in analyzing and visualizing engineering data that scale from an individual user to the enterprise.